ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್-ಸಿಲ್ವರ್ ಬ್ಯಾಟರಿಗಳ ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಕೆಮಿಕಲ್ ಕಾರ್ಯಕ್ಷಮತೆಯ ಮೇಲೆ ಆಗ್ ಅನುಪಾತ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆ ಹೇಗೆ ಪರಿಣಾಮ ಬೀರುತ್ತದೆ?

ಸಿಡಿ/ಆಗ್ ಅನುಪಾತದ ನಿರ್ಣಾಯಕ ಪಾತ್ರ

ಗರಿಷ್ಠ ಬ್ಯಾಟರಿ ದಕ್ಷತೆ ಮತ್ತು ಸುರಕ್ಷತೆಗಾಗಿ ಕಿರಿದಾದ ಸಿಡಿ/ಆಗ್ ಅನುಪಾತ ವಿಂಡೋ - ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ 0.9–1.05 - ಅಗತ್ಯ. ಅನುಪಾತದ ವಿಚಲನಗಳು ಅನಿಲ ವಿಕಸನ, ಡೆಂಡ್ರೈಟ್ ಬೆಳವಣಿಗೆ ಅಥವಾ ಸಾಮರ್ಥ್ಯದ ಮಸುಕಾಗುವಿಕೆಗೆ ಕಾರಣವಾಗುತ್ತವೆ, ವೈಫಲ್ಯದ ಅಪಾಯ ಮತ್ತು ನಿರ್ವಹಣಾ ಅಗತ್ಯಗಳನ್ನು ಹೆಚ್ಚಿಸುತ್ತವೆ. ಅನುಪಾತವು ± 0.05 ರಷ್ಟು ಬದಲಾದಾಗ ಶಕ್ತಿಯ ಸಾಂದ್ರತೆಯು 15% ವರೆಗೆ ಕಡಿಮೆಯಾಗುತ್ತದೆ. USGS ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್ ಡೇಟಾ ಬಿಡುಗಡೆಯ ಪ್ರಕಾರ, ಕಾನೂನು ಅನುಸರಣೆಗೆ ಮತ್ತು ಪರಿಸರ ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್ ಸಂಗ್ರಹಣೆಯನ್ನು ತಡೆಯಲು ನಿಖರವಾದ ಮಾಪನ ಅತ್ಯಗತ್ಯ.

Nಸರಿಯಾದ ಸಿಡಿ/ಆಗ್ ಅನುಪಾತಗಳನ್ನು ಖಚಿತಪಡಿಸಿಕೊಳ್ಳಲು ಮತ್ತು ಉತ್ಪಾದನೆ ಮತ್ತು ಮರುಬಳಕೆಯ ಉದ್ದಕ್ಕೂ ಬ್ಯಾಟರಿ ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವಿಕೆಯನ್ನು ಬೆಂಬಲಿಸಲು ಆನ್‌ವಿನಾಶಕಾರಿ ಪರೀಕ್ಷೆ ಮತ್ತು ತಪಾಸಣೆ ತಂತ್ರಗಳು, ವಿಶೇಷವಾಗಿ ಎಕ್ಸ್-ರೇ ಫ್ಲೋರೊಸೆನ್ಸ್ ಈಗ ಪ್ರಮಾಣಿತವಾಗಿವೆ.

ಲೋನ್ಮೀಟರ್ XRF ಮಿಶ್ರಲೋಹ ವಿಶ್ಲೇಷಕ: ಬ್ಯಾಟರಿ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯಲ್ಲಿ ವೈಶಿಷ್ಟ್ಯಗಳು ಮತ್ತು ಅನ್ವಯಿಕೆ

ತಾಂತ್ರಿಕ ವಿಶೇಷಣಗಳು ಮತ್ತು ವಿಶ್ಲೇಷಣಾತ್ಮಕ ಸಾಮರ್ಥ್ಯಗಳು

ಲೋನ್ಮೀಟರ್ XRF ಅಲಾಯ್ ವಿಶ್ಲೇಷಕವು ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್ ಮತ್ತು ಬೆಳ್ಳಿಯನ್ನು ಪತ್ತೆ ಮಾಡುತ್ತದೆ, ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್-ಸಿಲ್ವರ್ ಬ್ಯಾಟರಿ ಎಲೆಕ್ಟ್ರೋಡ್‌ಗಳಲ್ಲಿ ಟ್ರೇಸ್-ಲೆವೆಲ್ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯನ್ನು ಸಕ್ರಿಯಗೊಳಿಸುತ್ತದೆ. ಬಳಕೆದಾರ-ಕೇಂದ್ರಿತ ಟಚ್‌ಸ್ಕ್ರೀನ್ ಇಂಟರ್ಫೇಸ್ ಬ್ಯಾಟರಿ-ಗ್ರೇಡ್ ಘನ ಮಿಶ್ರಲೋಹಗಳಿಗೆ ಪೂರ್ವನಿಗದಿ ವಿಧಾನಗಳನ್ನು ಮಾರ್ಗದರ್ಶನ ಮಾಡುತ್ತದೆ, ವ್ಯಕ್ತಿನಿಷ್ಠ ಹೊಂದಾಣಿಕೆಗಳನ್ನು ತೆಗೆದುಹಾಕುತ್ತದೆ. ಪೋರ್ಟಬಿಲಿಟಿಯನ್ನು 1 ನಿಂದ ಖಚಿತಪಡಿಸಿಕೊಳ್ಳಲಾಗುತ್ತದೆ.5ಕೆಜಿ ಫಾರ್ಮ್ ಫ್ಯಾಕ್ಟರ್, ಬ್ಯಾಟರಿ ಕಾರ್ಯಾಚರಣೆ ವರೆಗೆ8ಗಂಟೆಗಳು. ಮಾಪನ ಚಕ್ರಗಳು 30 ಸೆಕೆಂಡುಗಳಿಗಿಂತ ಕಡಿಮೆ ಅವಧಿಯಲ್ಲಿ ಪೂರ್ಣಗೊಳ್ಳುತ್ತವೆ, ಹೆಚ್ಚಿನ-ಥ್ರೂಪುಟ್ ಸ್ಕ್ರೀನಿಂಗ್ ಅನ್ನು ಬೆಂಬಲಿಸುತ್ತವೆ. ಫಲಿತಾಂಶಗಳನ್ನು ಸಂಯೋಜಿತ ಮಾಪನಾಂಕ ನಿರ್ಣಯ ಗ್ರಂಥಾಲಯಗಳಿಗೆ ಉಲ್ಲೇಖಿಸುವುದರಿಂದ ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್ ನಿಯಂತ್ರಕ ಮಿತಿಗಳ ಅನುಸರಣೆಯನ್ನು ತಕ್ಷಣವೇ ಪರಿಶೀಲಿಸಲಾಗುತ್ತದೆ. ಪ್ರಕ್ರಿಯೆ ನಿಯಂತ್ರಣ ಸಾಫ್ಟ್‌ವೇರ್‌ಗೆ ಡೇಟಾ ರಫ್ತು ಗುಣಮಟ್ಟದ ನಿಯಂತ್ರಣ ಮತ್ತು ಪೂರೈಕೆ ಸರಪಳಿ ಪಾರದರ್ಶಕತೆಯನ್ನು ಮತ್ತಷ್ಟು ಖಚಿತಪಡಿಸುತ್ತದೆ.

ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಲ್ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪ: XRF ನಲ್ಲಿ ಸವಾಲುಗಳು ಮತ್ತು ತಗ್ಗಿಸುವಿಕೆಯ ತಂತ್ರಗಳು

ವಿಶ್ಲೇಷಕಗಳಿಂದ ಹೊರಸೂಸುವ ರೇಖೆಗಳು ಅತಿಕ್ರಮಿಸಿದಾಗ ಅಥವಾ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಸಿಗ್ನಲ್ ಅನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸಿದಾಗ XRF ನಲ್ಲಿ ಸ್ಪೆಕ್ಟ್ರಲ್ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪ ಉಂಟಾಗುತ್ತದೆ. ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್ ಸಿಲ್ವರ್ ಬ್ಯಾಟರಿ ವಿಶ್ಲೇಷಣೆಯಲ್ಲಿ, 22.16 keV ನಲ್ಲಿರುವ Ag Kα ರೇಖೆಯು 23.11 keV ನಲ್ಲಿರುವ Cd Kβ ಗೆ ಹತ್ತಿರದಲ್ಲಿದೆ, ಇದು ಸಾಮಾನ್ಯವಾಗಿ ಅಳತೆಯ ನಿಖರತೆಯನ್ನು ಕುಗ್ಗಿಸುವ ಅತಿಕ್ರಮಿಸುವ ಶಿಖರಗಳನ್ನು ಉತ್ಪಾದಿಸುತ್ತದೆ. ಬದಲಾಗುವ ಮಾದರಿ ಸಂಯೋಜನೆಯಂತಹ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಪರಿಣಾಮಗಳು ಈ ಶಿಖರಗಳನ್ನು ಬದಲಾಯಿಸಬಹುದು ಅಥವಾ ವಿಸ್ತರಿಸಬಹುದು, ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಮ್ ಸಿಗ್ನಲ್‌ಗಳನ್ನು ಮತ್ತಷ್ಟು ಮರೆಮಾಚಬಹುದು.

ಬ್ಯಾಟರಿ ತಯಾರಿಕೆಯಲ್ಲಿನ ವಿನಾಶಕಾರಿಯಲ್ಲದ ಪರೀಕ್ಷಾ ವಿಧಾನಗಳು ಪ್ರಮಾಣೀಕರಣ ದೋಷಗಳನ್ನು ತಪ್ಪಿಸಲು ಅಂತಹ ರೋಹಿತದ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪ ಪರಿಣಾಮಗಳನ್ನು ಪರಿಹರಿಸಬೇಕು. ಸಿಗ್ನಲ್ ಅತಿಕ್ರಮಣಗಳು ಕ್ಯಾಡ್ಮಿಯಂನ ಅತಿಯಾದ ಅಂದಾಜು ಅಥವಾ ಕಡಿಮೆ ಅಂದಾಜುಗೆ ಕಾರಣವಾಗಬಹುದು, ನಿಯಂತ್ರಕ ಅನುಸರಣೆ ಮತ್ತು ಪತ್ತೆಹಚ್ಚುವಿಕೆಯನ್ನು ದುರ್ಬಲಗೊಳಿಸಬಹುದು. ವ್ಯವಸ್ಥಿತ ಅಧ್ಯಯನವು XRF ನಲ್ಲಿ ಸರಿಸುಮಾರು 10% ತಪ್ಪು ಪ್ರಮಾಣೀಕರಣ ಘಟನೆಗಳು ಸಿಗ್ನಲ್ ಸೂಪರ್‌ಪೋಸಿಷನ್ ಅಥವಾ ಸ್ಟೋಕಾಸ್ಟಿಕ್ ಮ್ಯಾಟ್ರಿಕ್ಸ್ ಹಸ್ತಕ್ಷೇಪಗಳಿಂದ ಹುಟ್ಟಿಕೊಂಡಿವೆ ಎಂದು ತೋರಿಸುತ್ತದೆ.